Bit TESTS : TEST(P), DTEST(P)

명령

사용 가능 영역

스텝수

플래그

M

X

Y

K

L

F

T

C

S

Z

D

@D

정수

에러

제로

캐리

TEST(P)

DTEST(P)

S1

ㅇ

-

ㅇ

-

4

ㅇ

-

S2

ㅇ

-

ㅇ

D

ㅇ

-

ㅇ

-

ㅇ

-

S1	Bit Data를 추출해낼 워드 디바이스
S2	S1으로 지정된 디바이스에서 추출되어질 Bit Data 순서
D	Bit Data 결과를 표시하는 비트 디바이스

에러(F110)

영역이 @D로 지정된 경우 영역 초과가 발생하면 SET

TEST

TEST

S1로 지정된 워드 device안에 S2로 표현되는 위치의 bit data의 상태를 읽어와 D로 지정된 bit device에 출력합니다. D로 지정된 bit device의 상태는 0이면 Off, 1이면 On 입니다.
S2는 S1에서 지정하는 bit의 위치를 표시합니다. (0~15)

프로그램 예

워드 데이터 D0000의 10번째 bit 상태에 따라 M0000를 On 또는 Off 시키는 프로그램

DTEST

DTEST

S 또는 S+1로 가리키는 더블워드 device 안에 S2 표현되는 위치의 bit data의 상태를 읽어와 D로 지정된 bit device에 출력합니다. D의 bit device는 0이면 Off, 1이면 On 입니다.
S2는 S1, S+1의 지정하는 bit의 위치를 표시합니다. (0~31)

프로그램 예

더블워드 데이터 M0010와 M0020의 19번째 bit 상태에 따라 Y0020을 On 또는 Off 시키는 프로그램